2023年,市场监管总局(国家标准委)积极实施《国家标准化发展纲要》、《质量强国建设纲要》加大标准供给力度,以高标准引领高质量发展。市场监管总局数据显示,前三季度新批准发布国家标准1971项,同比增长超过110%。其中,工业领域发布国家标准1660项,占比84.2%。
仪器信息网关注到,2023年,我国颗粒学领域标准建设工作成果斐然。多项颗粒表征技术及分析仪器相关国家标准发布或实施,涉及静态光散射法、静态图像法、电泳光散射法、离心沉降法、单颗粒电感耦合等离子质谱法、纳米颗粒跟踪分析法等,由全国纳米技术标准化技术委员会、全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会归口管理。本文特将上述标准加以整理,供相关从业者查阅参考。
2023年度发布/实施的颗粒表征国家标准
标准号 | 标准名称 | 发布日期 | 实施日期 |
GB/T 43196-2023 | 纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
GB/T 42732-2023 | 纳米技术 水相中无机纳米颗粒的尺寸分布和浓度测量 单颗粒电感耦合等离子体质谱法 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
GB/T 42469-2023 | 纳米技术 抗菌银纳米颗粒 特性及测量方法通则 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
GB/T 42311-2023 | 纳米技术 吸入毒性研究中呼吸暴露舱内纳米颗粒的表征 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
GB/T 42348-2023 | 粒度分析 颗粒跟踪分析法(PTA) | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
GB/T 42342.2-2023 | 粒度分布 液相离心沉降法 第2部分:光电离心法 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
GB/Z 42353-2023 | Zeta电位测定操作指南 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
GB/T 41949-2022 | 颗粒 激光粒度分析仪 技术要求 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
GB/T 42208-2022 | 纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
GB/T 41948-2022 | 颗粒表征 样品准备 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
一、《纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》
本标准牵头单位为中国计量科学研究院,主要参加单位包括国家纳米科学中心、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京理化分析测试中心)、山东省计量科学研究院、卡尔蔡司(上海)管理有限公司、北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司、中国检验检疫科学研究院、北京粉体技术协会等。
纳米颗粒因尺度效应而具有传统大颗粒所不具备的独特性能,被广泛应用于生物医药、化工、日用品、润滑产品、新能源等领域。而纳米颗粒的粒度形状分布,直接关系到相应产品的性能质量及安全性,需要进行准确的测量表征。扫描电子显微镜(SEM)作为最直观、准确的显微测量仪器之一,在纳米颗粒测量表征中不可或缺。
本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的颗粒粒径测量的分析评价方法,对于采用不同扫描电子显微镜(SEM)得到的颗粒测量结果一致性评判,具有重要的参考价值。
标准解读详见:【标准解读】扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
二、《纳米技术 水相中无机纳米颗粒的尺寸分布和浓度测量 单颗粒电感耦合等离子体质谱法》
本标准由国家纳米科学中心、珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司、赛默飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、清华大学、中国计量科学研究院、杭州谱育科技发展有限公司,安捷伦科技(中国)有限公司制定。
单颗粒电感耦合等离子质谱法(spICP-MS)是一种在非常低的浓度中检测单个纳米颗粒的方法。与传统表征金属纳米颗粒技术相比,使用单台ICP-MS,不需联用设备就可以同时完成纳米颗粒的成分、浓度、粒径、粒度分布和颗粒团聚的检测,这是透射电子显微镜(TEM)、动态光散射(DLS)等纳米粒径表征技术无法完成的,并且此方法可将样品中溶解的纳米颗粒离子与固体纳米颗粒区分开来。
本标准是国内首项使用单颗粒电感耦合等离子体质谱方法表征纳米颗粒的国家标准,支撑spICP-MS作为一种普适性方法的推广与应用。
标准解读详见:《单颗粒电感耦合等离子质谱法检测纳米颗粒》国家标准解读
三、《Zeta电位测定操作指南》
本标准由山东理工大学 、上海市计量测试技术研究院 、中机生产力促进中心有限公司 、河南中科智能制造产业研发中心有限公司制定。
Zeta 电位通常用于研究液体介质中颗粒分散体系的等电点(IEP)和表面吸附,并作为比较不同样品静电分散稳定性的指标。Zeta电位不是可直接测量的量,而是使用适当理论确定的量。此外,Zeta电位不是悬浮颗粒的固有属性,而是取决于颗粒和介质属性,以及它们在界面上的相互作用。介质的化学成分和离子浓度的任何变化都会影响这种界面平衡,从而影响Zeta电位。因此,样品制备和测量过程都会影响测定结果。为了避免zeta电位测量操作问题使测量结果出现误差,需要一个统一的zeta电位测量操作指导原则。
本标准发布实施,提供了使用光学电泳迁移法或电声法测定Zeta电位的样品制备和测量过程的操作指南。
标准解读详见:ISO颗粒表征专家许人良解读《Zeta电位测定操作指南》国家标准
四、《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法》
本标准牵头单位为国家纳米科学中心,主要参加单位包括国标(北京)检验认证有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、深圳市德方纳米科技股份有限公司、中国计量大学、北京粉体技术协会等。
透射电子显微镜(TEM)具有原子水平的分辨能力,它不仅可以在观察样品微观形态,还可以对所观察区域的内部结构进行表征,成为纳米技术研究与发展不可或缺的工具。特别是TEM配合图像分析技术对多相体系中纳米颗粒粒度进行分析具有一定的优势。
本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的多相体系中纳米颗粒粒径分析评价方法,不仅对于多相体系中纳米颗粒的粒径这种需要探讨体系内部的颗粒测量给出了方案,而且对于不同TEM的颗粒测量结果一致性评判具有重要的参考价值。
标准解读详见:【标准解读】透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径
五、《粒度分析 颗粒跟踪分析法(PTA)》
本标准由中国计量科学研究院 、深圳国技仪器有限公司 、太原理工大学 、上海思百吉仪器系统有限公司 、中机生产力促进中心有限公司 、湖州中能粉体材料股份有限公司 、山东理工大学 、仪思奇(北京)科技发展有限公司 、珠海真理光学仪器有限公司 、大昌洋行(上海)有限公司等单位制定。
PTA基于激光照射、散射光成像、颗粒识别及定位、单一颗粒跟踪等技术手段,对悬浮液中的颗粒扩散运动进行测量。近年来,学术界在脂质体及其他药物载体、纳米毒理学、病毒、外泌体、蛋白聚集、喷墨墨水、颜料颗粒、化妆品、食品、燃料添加剂及微气泡等工作中开始使用PTA技术进行表征。ASTM已发布了一个标准指南(E2834-12),指导纳米颗粒跟踪分析法NTA测量粒径分布。本标准旨在扩展规范的范围并推进PTA操作的系统化。
本标准概述了颗粒跟踪分析法的理论、基本原理及优缺点,同时对仪器配置、测量程序、系统确认和分析报告等进行了描述,数据含义阐述及解释是其中重要内容之一。
六、《粒度分布 液相离心沉降法 第2部分:光电离心法》
本标准由罗姆(江苏)仪器有限公司 、中机生产力促进中心有限公司 、安徽鼎恒实业集团有限公司 、中国计量大学 、长兴旭日粉体科技股份有限公司制定。
尽管过去20年发展了多种颗粒表征新技术,但由于技术的进步(例如多波长特征)以及沉降技术是基于重力或离心场中定向运动(迁移)进行颗粒表征最本初的方法,沉降法在某种程度上重新焕发活力。
作为一种分级技术,沉降分析有助于区分具有接近沉降速度的不同颗粒及其相应的等效斯托克斯直径。可以非常精细地分辨粒度分布,这与光谱集成技术相比是一个优势。此外,如果颗粒的扩散通量按沉降通量的顺序排,一些离心技术有助于对颗粒系统进行多维表征,即同时确定多个分布量(例如颗粒大小和密度或形状因子)。
GB/T42342《粒度分布液相离心沉降法》是通过离心沉降法加速颗粒在液体中迁移来确定颗粒材料的沉降速度、沉降系数和粒度分布的方法。第1部分给出了离心沉降法的基本原理和指南,第2部分给出了用液相离心沉降法测定颗粒粒度分布的方法。
七、《纳米技术 抗菌银纳米颗粒 特性及测量方法通则》
本标准由国家纳米科学中心 、中国食品药品检定研究院 、中国医学科学院基础医学研究所制定。
银纳米颗粒具有抗菌性能,成为在消费品中应用最广泛的纳米材料之一。银纳米颗粒越来越多地应用于消费品中,以控制产品表面或内部的微生物生长。尽管市面上有很多含银纳米颗粒的抗菌产品,但大多数产品在销售时并未提供纳米颗粒理化性质和抗菌特性的信息。目前,大多数生产商依据实践经验提供特性指标。
在参考了纳米技术领域抗菌银纳米颗粒粉体和胶体的其他标准的基础上,本标准提供了银纳米颗粒特性指标及推荐测量方法的指南。本标准中推荐的主要测量方法可用于工业界具体参数确定。本标准总结选取了目前常用的测量方法,因此需要适时更新。
八、《纳米技术 吸入毒性研究中呼吸暴露舱内纳米颗粒的表征》
本标准由国家纳米科学中心 、广东粤港澳大湾区国家纳米科技创新研究院制定。
纳米颗粒吸入毒理学的一个关注点是确保从业人员和消费者的健康。为了进行纳米颗粒的呼吸毒理学研究,有必要对呼吸舱内纳米尺寸颗粒的浓度、尺寸和分布特征进行监测。监测细颗粒或粗颗粒的传统方法,如称重法,不足以用于纳米颗粒,因为纳米特性参数(如颗粒表面积、颗粒数目等)可能是关键的决定因素,需进行监测。
本标准提供了一系列的呼吸暴露舱内纳米颗粒监测方法,既包括差分迁移分析系统(DMAS),用于测量颗粒数量、尺寸、分布、表面积和估算质量浓度;也包括应用透射电子显微镜(TEM)或者扫描电子显微镜(SEM)进行形貌表征;还包括应用X射线能量色散谱(TEM-EDXA)进行化学成分分析。
九、《颗粒 激光粒度分析仪 技术要求》
本标准由中国计量科学研究院 、珠海真理光学仪器有限公司 、合肥鸿蒙标准技术研究院有限公司 、丹东百特仪器有限公司 、中国计量大学 、济南微纳颗粒仪器股份有限公司 、成都精新粉体测试设备有限公司 、堀场(中国)贸易有限公司 、上海思百吉仪器系统有限公司(马尔文帕纳科) 、大昌洋行(上海)有限公司(MicrotracMRB) 、上海理工大学 、珠海欧美克仪器有限公司等单位制定。
激光粒度分析仪是用于测量颗粒大小及其分布的仪器。与其他粒度测量仪器相比,激光粒度分析仪具有粒度测量范围宽、测量速度快、测量重复性好和操作方便等优点。
激光粒度分析仪在制造和使用中,制造单位和用户最关心的就是其性能指标。本标准对仪器的重复性、准确性、分辨力和Dso检测下限等提出具体要求,以规范仪器厂家的生产与宣传行为,便于不同实验室之间对粒度结果进行比较,利于用户选择适合自己需要的激光粒度分析仪。
十、《颗粒表征 样品准备》
本标准由深圳市德方纳米科技股份有限公司 、合肥鸿蒙标准技术研究院有限公司 、山东理工大学 、济南微纳颗粒仪器股份有限公司 、中国科学院过程工程研究所 、华南理工大学 、澳谱特科技(上海)有限公司 等单位制定。
颗粒材料在国民经济的众多领域都起着重要的作用。在颗粒材料的研发、制备、生产与应用中,都离不开对颗粒特性的表征。除了需要对各类表征技术及分析仪器进行标准化外,对颗粒表征样品准备过程(包括取样、制样和样品转移等)的标准化也至关重要。适宜和规范的样品准备是得出正确颗粒表征特性的必要条件。
本标准用于确立颗粒表征所用样品的准备程序,以指导颗粒测试人员得到正确的待测样品。
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