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2021全国电子显微学学术年会，勀杰科技不缺席



2021全国电子显微学学术年会 盛大展开~


身为高科技研发单位奈米影像研究方案的提供者


勀杰科技本次亦有幸受邀参展~




我们提供了多种样品前制备技术，以及TEM与SEM各种专业样品杆


更针对SEM电镜成像受干扰问题，提供专业的消磁与减震的解决方案




本次我们也首次曝光专业环境监控设备


Spicer Consulting SC-28智能环境检测系统


提供您长时间的环境监测，达到理想化的实验场域






感谢许多伙伴们前来一同共襄盛举，


勀杰科技将会持续提供专业的解决方案


提升客户制程及研发的能力，为促进人类高科技的发展!!





文章内容来自网络，如有侵权，联系删除、联系电话：023-85238885

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