第二轮通知|第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会- 工业快报

表面分析技术是一种统称，指利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。

仪器信息网将于2023年11月14-15日举办第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会，以分享表面分析技术及应用研究的新进展，推动表面分析技术与应用领域的发展。旨在利用互联网技术为广大科研者及相关专业人员提供一个方便、高效的免费学习平台，让大家了解最新的表面分析技术及应用研究动态，与同行们交流心得，共同进步。

此次表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了4个主题会场，分别是:光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用等其他表面分析技术与应用。诚邀业界人士报名参会。

一、主办单位

仪器信息网

二、会议时间

2023年11月14日-15日

三、会议形式

线上直播，直播平台：仪器信息网3i讲堂

四、会议日程

1. 专场安排

第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会
时间	专场名称
11月14日上午	光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用专场
11月14日下午	扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用专场
11月15日上午	电子探针/原子探针技术与应用专场
11月15日下午	二次离子质谱、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用专场

2. 详细日程(以会议官网最终日程为准)

时间	报告题目	演讲嘉宾
专场1：光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用专场（11月14日上午）
09:00	待定	姚文清清华大学/国家电子能谱中心研究员/副主任
09:30	待定	岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司
10:00	XPS在材料研究中的应用	程斌北京化工大学研究员/副主任
10:30	XPS在纳米薄膜厚度测量中的应用	刘芬中国科学院化学研究所副研究员
11:00	同步辐射光电子能谱技术及其应用	朱俊发中国科学技术大学教授
专场2：扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用专场（11月14日下午）
14:00	纳米测量技术国际标准化工作的意义探讨	黄文浩中国科学技术大学教授
14:30	基于扫描探针的原子制造技术的探索	陆兴华中国科学院物理研究所研究员
15:00	多频静电力显微镜电学性质动态测量技术	钱建强北京航空航天大学教授
15:30	日立AFM在表面分析方面的应用	刘金荣日立科学仪器（北京）有限公司高级工程师
16:00	扫描探针显微镜在神经形态器件中的应用研究	惠飞郑州大学材料科学与工程学院研究员
16:30	原子力显微镜在高分子表征中的应用	张彬郑州大学教授
专场3：电子探针/原子探针技术与应用专场（11月15日上午）
09:00	电子探针分析在关键金属矿产研究中的应用	陈振宇中国地质科学院矿产资源研究所研究室主任/研究员
09:30	待定	沙刚南京理工大学教授
10:00	原子探针层析技术原理及其在镍基合金中的应用	李慧上海大学副研究员
10:30	电子探针在材料科学中的应用	刘树帅山东大学材料学院材料表征与分析中心副主任
专场4：二次离子质谱、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用专场（11月15日下午）
14:00	二次离子质谱（SIMS）质量分辨的测量	李展平清华大学分析中心高级工程师
14:30	拉曼光谱分析技术和扫描电镜分析技术在古代陶瓷器科学研究中的应用	刘松中国科学院上海光学精密机械研究所副研究员