第二届“半导体工艺与检测技术”网络会议回放视频上线!

2023年5月10-11日,仪器信息网联合电子工业出版社共同主办了第二届“半导体工艺与检测技术”网络会议。本次会议分为四个专场,吸引了领域内近千听众报名参会。

会议的17个报告,经征求报告嘉宾意见,部分报告将设置视频回放,便于广大网友温故知新,详情见下表:

第二届“半导体工艺与检测技术”网络会议
5月10日薄膜沉积与外延及其检测技术链接
09:30--10:00离子束溅射镀膜技术及其应用王晓东(中国科学院半导体研究所     研究员)不回放
10:00--10:30ICPMS在半导体行业的应用付玉(德国耶拿分析仪器有限公司   应用工程师)回放链接
10:30--11:00硅光传感技术与工艺杨妍(中国科学院微电子研究所   研究员杨妍)不回放
11:00--11:30湿敏薄膜制备与第三代半导体器件研究代建勋(大连理工大学   助理教授)回放链接
光刻与刻蚀及其检测技术
14:00--14:30广义芯片特种紫外光刻设备研发胡松(中国科学院光电技术研究所   研究室主任/研究员)不回放
14:30--15:00海洋光学微型光谱仪在半导体领域的应用卢坤俊(海洋光学   资深技术&应用专家)回放链接
15:00--15:30特种传感芯片专用光刻设备刘俊伯(中国科学院光电技术研究所     副研究员)回放链接
15:30--16:00干法刻蚀的创新和挑战张忠山(中国科学院物理研究所   副主任工程师)不回放
5月11日半导体封装及其检测技术
09:30--10:00面向芯粒集成的先进封装工艺探索刘书利(   中科芯集成电路有限公司 微系统制造研发部副经理)不回放
10:00--10:30光学显微镜在半导体封装工艺中的应用徕卡显微系统回放链接
10:30--11:00半导体集成电路封装及检测张乐银(华东光电集成器件研究所   所级关键技能带头人)回放链接
11:00--11:30集成电路设计与封装技术的协同优化陈春章(鹏城实验室   研究员)回放链接
半导体失效分析及沾污检测
14:00--14:30碳化硅MOS器件可靠性考核体系的探讨郭春生(北京工业大学   副教授)不回放
14:30--15:00国产无机质谱在半导体工艺检测中的应用和进展陈磊(北京莱伯泰科仪器股份有限公司   ICP-MS产品经理)回放链接
15:00--15:30半导体制程中痕量金属离子检测张君峰(苏州赛米肯分析技术有限公司   实验室经理)回放链接
15:30--16:00半导体实验中器皿洁净度控制方案张迪(天津语瓶仪器技术有限公司   应用工程师)回放链接
16:00--16:30电子化学品中痕量阳离子检测技术和应用实例李春华(上海市计量测试技术研究院   集成电路产业中心主任/高工)回放链接

仪器信息网每年都会组织半导体等主题的网络会议,欢迎广大产业链的从业人员报名参会,或者分享报告交流

会议联系

会议内容(欢迎广大产业链的从业人士联系):

康编辑(仪器信息网)

15733280108  kangpc@instrument.com.cn

会议赞助:

刘经理 15718850776(同微信) liuyw@instrument.com.cn

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2023年,仪器信息网还将举办“半导体封装及相关检测技术网络研讨会”、“第四届半导体材料与器件分析检测技术网络会议”等主题网络会议,欢迎广大从业人员报名参会。

报名链接

半导体封装及相关检测技术网络研讨会_3i讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)


附:首届“半导体工艺与检测技术”网络会议

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